PCM编译码器CSC3057中单元电路的熔断微调测试原理  

作　　者：吴可 王玫 沈永朝[2] 鲍顺光 

机构地区：[1]中国华晶电子集团公司 [2]东南大学无线电系

出　　处：《微电子测试》1996年第2期12-16,共5页

摘　　要：本文根据PCM编译码器CSC3057的内电路结构,简介了该电路的功能特点,并在此基础上论述了有关单元电路的熔断微调原理。文章对于制定此类电路的熔断测试方案,具有一定的指导意义。

关 键 词：PCM 编码器 译码器 熔断 测试 

分 类 号：TN762[电子电信—电路与系统] TN764