为混成光学显微镜设计的纳米图像观察技术  

作　　者：杨英慧（摘译） 

出　　处：《现代材料动态》2006年第3期15-15,共1页Information of Advanced Materials

摘　　要：美国国立研究所（NIST）报道，光学显微镜的一个新变体有可能用于10nm以下物体的成像和测量。利用一项尚不成熟的技术，NIST的科学家将436nm波长的紫外光聚焦于40nm大小的物体进行成像，这一尺寸几乎是用普通显微镜所能看到的1／5。

关 键 词：光学显微镜 技术 图像 纳米 设计 NIST 研究所 紫外光 科学家 成像 

分 类 号：TB383[一般工业技术—材料科学与工程] TH742[机械工程—光学工程]