运用α扫描分析研究影响Si（Li）探测器性能的某些因素  

Study of Some Factors Influencing Properties of Si(Li)Detectors Using a Scanning Analysis

作　　者：李大庆[1] 俞嗣皎[1] 李井怀[1] 于甜[1] 

机构地区：[1]中国原子能科学研究院应用所

出　　处：《核电子学与探测技术》1996年第1期67-69,共3页Nuclear Electronics & Detection Technology

摘　　要：文章讲述了α扫描分析原理和方法，描述了建立的α扫描分析系统，并运用该系统进行了测量分析工作，取得了有意义的结果。This paper depictes a scanning analysis principle and method.The scanning analysis system is set up.Somemeasuring and analysing works on Si (Li)detectors have been done by means of this system.The results aremeaningful.(

关 键 词：α扫描分析 硅单晶 探测器 

分 类 号：O766[理学—晶体学] TN304.12[电子电信—物理电子学]