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作 者:张芳[1] 张澜庭[1] 单爱党[1] 吴建生[1]
机构地区:[1]上海交通大学材料科学与工程学院高温材料及高温测试教育部重点实验室,上海200030
出 处:《中国科学(E辑)》2006年第3期235-242,共8页Science in China(Series E)
基 金:国家自然科学基金资助项目(批准号:50131030)
摘 要:利用高温金相显微镜对NbSi2单晶和多晶在1023K的氧化行为进行氧化原位观察,研究了微裂纹、疏松和晶界对NbSi2氧化行为的影响.结果表明,电弧熔炼的多晶试样在1023K氧化一段时间后,试样表面有裂纹萌生和扩展的迹象,随后样品沿裂纹处断开,而晶界和疏松处虽然也是氧化的优先部位,却不会引起试样的开裂,证明了试样中已存在的微裂纹是引起铸态NbSi2氧化粉化现象的根本原因.NbSi2单晶、放电等离子烧结(SPS)多晶和电弧熔炼多晶样品的氧化动力学行为与原位观察结果吻合.
关 键 词:原位观察 高温金相 pesting现象 硅化物 氧化 单晶
分 类 号:TG115.2[金属学及工艺—物理冶金]
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