厚膜混合集成电路的失效分析及其缺陷产品的筛选淘汰  

作　　者：侯翠群 

机构地区：[1]中国兵器工业第214研究所,蚌埠233042

出　　处：《集成电路通讯》2006年第1期35-38,共4页

摘　　要：介绍了厚膜混合集成电路的失效分析程序,总结了在生产与使用中发现的主要失效模式,对失效机理进行了研究,提出了对存在缺陷产品的有效筛选淘汰方法。

关 键 词：厚膜混合集成电路 失效分析 失效机理 缺陷产品 筛选淘汰机制 

分 类 号：TN452[电子电信—微电子学与固体电子学]