嵌入式存储器的内建自测试算法及测试验证  

作　　者：林晓伟[1] 郑学仁[1] 刘汉华[1] 闾晓晨[1] 万艳[1] 

机构地区：[1]广州华南理工大学微电子研究所

出　　处：《中国集成电路》2006年第2期77-80,共4页China lntegrated Circuit

摘　　要：嵌入式存储器的广泛应用使得内建自测试(BIST,Built-In Self-Test)在当前SoC设计中具有重要的作用,本文着重分析比较了几种BIST测试算法,并对嵌入式BIST的体系结构进行了剖析,最后深入研究了MARCH C-算法的实际应用,使用UMC.18SRAM和2PRAM仿真模型对存储器的BIST测试进行了验证,并成功将其应用于一款USB音视频芯片。

关 键 词：嵌入式存储器 测试验证 测试算法 BIST 内建自测试 SOC设计 MARCH 体系结构 仿真模型 SRAM 

分 类 号：TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TP274[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]