检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:Aaron Hand
机构地区:[1]Semiconductor International
出 处:《集成电路应用》2006年第5期22-22,共1页Application of IC
摘 要:正如半导体国际杂志上所说的那样,在今年的SPIE Microlithography会议上,光刻领域的技术专家们共聚一堂并发表了他们的最新研究成果。毫无疑问本次会议将会产生更多的新闻和技术热点,而近来公布的一些关于前沿浸没式光刻技术和极紫外光刻技术(EUV)的新闻以及研究成果已经受到了广泛的关注和极大的重视。
关 键 词:极紫外光刻技术 研究成果 SPIE 技术专家 技术热点 半导体 浸没式 会议 新闻
分 类 号:TN2-27[电子电信—物理电子学] TP305[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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