积分时间和工作电压对焦平面探测器性能的影响  

The Influence of Integration Time and Power Supply on the Performance of IRFPA

作　　者：王巍[1] 龚启兵[1] 林磊[1] 傅跃农[1] 郭强[1] 

机构地区：[1]中国空空导弹研究院,河南洛阳471009

出　　处：《航空兵器》2006年第2期35-37,共3页Aero Weaponry

摘　　要：测试了采用某CTIA型读出电路的128元InSb焦平面探测器在不同积分时间和工作电压情况下的特性,分析了实验中遇到的一些现象,得到了使焦平面探测器综合性能较高的积分时间和工作电压的取值区间,为设计CTIA型读出电路提供了参考依据。The performance of an IR FPA using CTIA is tested under different integration time and power supply. Some experiment result are analyzed and the optimized integration time and power supply are gotten to provide reference for the design of readout circuit.

关 键 词：CTIA 读出电路 焦平面阵列 INSB 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学] TJ760.5[兵器科学与技术—武器系统与运用工程]