仪器仪表技术：离子迁移谱仪微型化的现状与进展  

Present status and prospect of the miniaturized ion mobility spectrometry

作　　者：张东风 孔德义 梅涛 陶永春 

机构地区：[1]中国科学院合肥智能机械研究所传感技术国家重点实验室,合肥230031 [2]不详

出　　处：《中国学术期刊文摘》2006年第12期3-3,共1页Chinese Science Abstracts(Chinese Edition)

基　　金：国家自然科学基金资助（60275027）

摘　　要：离子迁移谱仪（IMS）在痕量化学物探测方面已有广泛应用，微型化的IMS则具有许多独特的优点和巨大的应用潜力．介绍了微型化IMS的仪器原理与结构特点及目前的主要研究成果，分析了其面临的主要问题及可能的解决途径。最后对微型化IMS的发展方向提出了一些看法．

关 键 词：IMS 微型化 PFA—IMS 痕量化学物探测 

分 类 号：TH744[机械工程—光学工程] V448.15[机械工程—仪器科学与技术]