等离子体隐身研究的关键性问题与研究技术路线的选择  

Key Problems and the Technical Routes of the Plasma Stealth Study

作　　者：孙健[1] 白希尧[1] 依成武[2] 储金宇[2] 

机构地区：[1]大连海事大学物理系 [2]江苏大学生物与环境工程学院

出　　处：《中国基础科学》2006年第3期47-50,共4页China Basic Science

基　　金：国家自然科学基金(批准号60471036;50578020)

摘　　要：本文分析了目前等离子体隐身研究存在的几个问题:(1)等离子体寿命短的问题———有的学者把放电通道中气体电离复合的ns级时间误认为源外的等离子体寿命,这是错误的,源外离子复合机率远小于10-6,几乎不存在寿命问题;(2)等离子体浓度问题———由于气体电离度不超过10-4,通常低气压射频辉光放电的等离子体浓度在1012/cm3左右,因此,有些学者提出的射频辉光放电产生的等离子体浓度可达到1019/cm3的观点是错误的;(3)电子束法隐身问题———由于电子束装置存在的电磁波会污染环境和干扰控制系统,再加上体积大、能耗高而无法实现飞行器的隐身;(4)研究隐身的环境问题———在玻璃真空罩环境中研究的结果无法用于飞行器上。为解决上述问题应走自主创新的研究路线,研制微型低能耗高电离度的非平衡等离子体源,以便尽快解决我国军事装备的隐身问题。

关 键 词：气体电离放电 等离子体源 隐身技术 

分 类 号：X76[环境科学与工程—环境工程] V218[航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]