MOS／双极复合晶体管中自锁效应温度特性的研究  

作　　者：郑茳 冯耀兰 

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》1989年第5期14-18,共5页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关 键 词：功率晶体管 复合晶体管 自锁效应 

分 类 号：TN323.4[电子电信—物理电子学]