检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《电子工业专用设备》2006年第8期55-56,共2页Equipment for Electronic Products Manufacturing
摘 要:Cadence设计系统有限公司近日宣布,凭借其最新的数据压缩以及成品率诊断性能,该公司正不断扩展在测试和成品率诊断领域的技术先导地位。新版Cadence®Encounter®Test通过为非专有的片上异或(XOR)测试数据压缩结构提供更广泛的支持,解决在制造高品质硅芯片过程中的费用上涨问题。此新型数据压缩性能增强了自动化测试矢量生成(ATPG)和诊断产品之间的多厂商互操作性,并支持使用一站式诊断流程。
关 键 词:诊断技术 测试矢量 CADENCE 成品率 先导 扩展 CADENCE 有限公司 数据压缩 设计系统
分 类 号:TN790.7[电子电信—电路与系统] S858.3[农业科学—临床兽医学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.28