透射电镜原子像的数值分析  

作　　者：万威[1] 陈江华[1] 

机构地区：[1]中国科学院物理研究所北京凝聚态物理国家实验室,北京100080

出　　处：《电子显微学报》2006年第B08期3-3,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：原子像 数值分析 透射电镜 高分辨电子显微术 材料结构 图像处理技术 结构信息 HRTEM 

分 类 号：TN16[电子电信—物理电子学]