万威

作品数：5被引量：6H指数：2
导出分析报告
供职机构：中国科学院物理研究所更多>>
发文主题：GAN晶体结构晶体缺陷DEC透射电镜更多>>
发文领域：电子电信理学一般工业技术自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《物理学报》《电子显微学报》更多>>
所获基金：国家自然科学基金更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-5
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
球差校正高分辨电子显微像的像衬和解卷处理
《电子显微学报》2009年第4期303-308,共6页万威 李方华 
国家自然科学基金资助项目(No.10874207No.50672124)~~
本工作将赝弱相位物体近似像衬理论延伸至球差校正高分辨电子显微像,分析了球差校正像的衬度随样品厚度的变化规律。指出非Scherzer聚焦条件下球差校正电镜拍摄的高分辨像仍未必反映晶体结构,讨论了解卷处理方法应用于球差校正像的有效...
关键词：高分辨电子显微像 球差校正电子显微镜 赝弱相位物体像衬理论 解卷处理 GAN 
透射电镜原子像的数值分析
《电子显微学报》2006年第B08期3-3,共1页万威 陈江华 
关键词：原子像 数值分析 透射电镜 高分辨电子显微术 材料结构 图像处理技术 结构信息 HRTEM 
高分辨电子显微像的解卷处理程序:DEC被引量：3
《电子显微学报》2005年第4期374-374,共1页万威 唐春艳 王迪 何万中 王怀斌 李方华 
关键词：高分辨像 电子显微像 DEC 处理程序 晶体厚度 晶体结构 解卷处理 计算机程序 程序应用 
GaN晶体中堆垛层错的高分辨电子显微像研究被引量：3
《物理学报》2005年第9期4273-4278,共6页万威 唐春艳 王玉梅 李方华 
借助高分辨电子显微像结合解卷处理的方法研究了GaN晶体中的堆垛层错.简要介绍了高分辨电子显微像的解卷处理原理,指出通过解卷处理可以把本来不直接反映待测晶体结构的高分辨电子显微像转换为直接反映晶体结构的图像.用高分辨电子显微...
关键词：GAN 晶体缺陷 高分辨电子显微学 解卷处理 电子显微像 晶体结构 堆垛层错 高分辨 处理原理 原子排列 
GaN缺陷晶体高分辨电子显微像的解卷处理
《电子显微学报》2004年第4期361-361,共1页万威 唐春艳 王玉梅 李方华 
国家自然科学基金资助项目 (No .5 0 0 72 0 43 )
关键词：氮化镓晶体 晶体缺陷 高分辨电子显微镜 结构分析 分辨率 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部