GaN缺陷晶体高分辨电子显微像的解卷处理  

Deconvolution for high-resolution electron microscope images of defected crystals GaN

作　　者：万威[1] 唐春艳[1] 王玉梅[1] 李方华[1] 

机构地区：[1]中国科学院物理研究所,北京,100080

出　　处：《电子显微学报》2004年第4期361-361,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基　　金：国家自然科学基金资助项目 (No .5 0 0 72 0 43 )

关 键 词：氮化镓晶体 晶体缺陷 高分辨电子显微镜 结构分析 分辨率 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]