利用太阳电池I-V特性测量其基区少数载流子寿命  

MINORITY CARRIER LIFETIME IN SOLAR CELL BASE REGION BYⅠ-ⅤCHARACTERISTICS MEASUREMENT

作　　者：马逊[1] 刘祖明[1] 陈庭金[1] 廖华[1] 屈盛[1] 

机构地区：[1]云南师范大学太阳能研究所云南省农村能源工程重点试验室,昆明650092

出　　处：《太阳能学报》2006年第9期905-909,共5页Acta Energiae Solaris Sinica

基　　金：国家高技术研究发展计划(863)(2001AA513040)

摘　　要：提出了一种新的测量成品太阳电池基区少子寿命的方法,这种方法在电池制备完成后进行测量。此方法还可对印刷电极后烧结这步工艺流程进行少子寿命的监控,以提供改进电极制作工艺信息。A new technique measuring minority cartier lifetimes in fabricated solar cells base region by I-V characteristics was proposed. Specially, it can be used to monitor the lifetimes ＇after screen printing and metallization processing for providing information to improve in metal contact grid manufacture.

关 键 词：少数载流子寿命 饱和暗电流 I-V特性 

分 类 号：TK514[动力工程及工程热物理—热能工程]