一种安全可控的SoC可测性设计  

作　　者：王新成[1] 孙宏[1] 蔡吉仁[1] 杨义先[1] 

机构地区：[1]北京邮电大学信息安全中心,北京100876

出　　处：《电子技术应用》2006年第12期39-41,共3页Application of Electronic Technique

基　　金：国家重点集成研究发展规划(NO.G1999035805);国家杰出青年基金(NO.69425001);国家自然科学基金(NO.60073049)

摘　　要：提出了一种安全可控的可测性设计DFT(DesignForTest)。DFT既能够完成对SoC的测试,又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。

关 键 词：可测性设计 集成电路 微系统芯片 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]