纳米电子时代可靠性研究的挑战  

作　　者：Way Kuo 沈岭（译）[2] 任立明（校）[2] 

机构地区：[1]IEEE可靠性学报 [2]中国航天标准化研究所,主编

出　　处：《质量与可靠性》2006年第6期53-54,59,共3页Quality and Reliability

关 键 词：纳米时代 可靠性 电子时代 制造技术 跨学科 

分 类 号：TB383.1[一般工业技术—材料科学与工程]