白光LED老化机理研究进展  

Research and progress in mechanisms of aging white LED

作　　者：陈宇彬[1] 李炳乾[2] 范广涵[1] 

机构地区：[1]华南师范大学光电学院,广东广州510630 [2]佛山科学技术学院物理系,广东佛山528000

出　　处：《国外电子元器件》2007年第1期8-12,共5页International Electronic Elements

基　　金：广东省自然科学基金项目(04011462);佛山市科技发展专项资金项目(04030021)

摘　　要：介绍了国内外在老化机理研究方面采用的加速老化方法,主要从深能级和非辐射复合中心的增加、接触电极金属的电迁移和退化、散热不良导致的电极缓慢或灾变性失效、封装材料的老化、荧光粉的劣变、静电的影响等方面来分析老化机理。同时介绍了根据这些研究而采取的各种改善措施。The aging degradation methods is introdeced,and the degradation mechanisms of white LED including creation of deep levels and non-radioactive recombination centers, electro migrationand degradation of contact metal ,slow or disaster mode electrode failure caused by high temperature, degradation of the encapsulation material, obsolescence of fluorescent powder.The measures to improve the reliability of the device is introduced,

关 键 词：白光LED 老化 GAN 失效 

分 类 号：TN365[电子电信—物理电子学]