超细铁粉的高分辩电镜观察  

作　　者：朱健[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海冶金研究所

出　　处：《电子显微学报》1990年第3期183-183,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

摘　　要：本工作用高分辩电子显微术观察超细铁粉的精细结构。铁基粉未是现代粉未冶金的一个重要部分,也是当前粉未冶金研究中最活跃的领域之一。铁粉是铁基粉未冶金工业的基本原料,也是一种下在迅速发展的新技术材料。采用粉未冶金技术制造各种金属材料,机械零件,硬质合金,磁性材料等等,在国民经济中起着重要作用。 X光衍射分析显示超细铁粉中有γ-Fe·Feo·γFe_2O_3·H_2O·FeFe_2O_4等多种相。在电镜中观察到FeO<110>取向的电子衍射花样和高分辩晶格像,晶胞参数为a=4.307A。在[110]取向衍射花样上(倒格子空间)沿<111>方向显示1/2超点阵斑点,反映在晶格像上。

关 键 词：铁粉 精细结构 电镜 

分 类 号：TF123.21[冶金工程—粉末冶金]