PT/PZT/PT铁电薄膜的电畴结构与极化保持特性  

作　　者：王龙海[1] 于军[2] 赵素玲[3] 郑朝丹[2] 王耘波[2] 高峻雄[2] 

机构地区：[1]武汉工程大学电气信息学院,武汉430073 [2]华中科技大学电子科学与技术系,武汉430074 [3]武汉理工大学测试中心,武汉430070

出　　处：《中国科学（E辑）》2007年第1期12-19,共8页Science in China(Series E)

基　　金：国家自然科学基金项目(批准号:60171012);国家自然科学基金重大研究计划(编号:90407023)资助

摘　　要：用Sol-Gel法制备出了具有良好铁电性、纯钙钛矿结构的PbTiO3/Pb(Zr0.3Ti0.7)O3/PbTiO3铁电薄膜.在扫描力显微镜的压电响应模式下,薄膜电畴压电响应的振幅像和相位像都表现为亮暗(黑白)和灰度衬度.其复杂的畴衬度可归因于晶粒的结晶取向和畴排列所致.对于亮暗衬度区域,对应着极化方向相反的c畴.灰色衬度区域对应着偏离膜平面垂直方向的c畴.电场力响应模式下经12V极化后测得的表面电势图显示,电畴取向极化后,薄膜表面将俘获正电荷.这些俘获的正电荷,使薄膜表面这一区域呈高电势的亮区.在不同时间测得的表面电势图和表面电势线扫描信号可看出,表面势将随着时间的变化而降低,且强电场极化的区域,15min内表面电势下降迅速;弱场极化的区域表面电势变化缓慢.说明薄膜的极化保持特性与极化场强有密切的关系,在合适的电场下,薄膜极化后将会有较好的保持特性.

关 键 词：铁电薄膜 电畴 极化保持特性 扫描力显微镜 

分 类 号：TB383.2[一般工业技术—材料科学与工程]