Ni薄膜热敏电阻失效机理研究  

Failure Mechanism of Ni Thin Film Thermistors

作　　者：谢军[1] 周立军[1] 李云鹏[1] 

机构地区：[1]沈阳工业大学,沈阳市110023

出　　处：《仪表技术与传感器》1996年第12期13-15,共3页Instrument Technique and Sensor

摘　　要：通过对Ni薄膜热敏电阻进行可靠性试验得出其失效模式,并对失效机理进行了分析。The failure mode of Ni thin film thermistor is established in this paper through reliability tests, and the failure mechanism is also analyzed.

关 键 词：薄膜热敏电阻 可靠性 热敏电阻 

分 类 号：TN37[电子电信—物理电子学] TB114.3[理学—概率论与数理统计]