CGH在大口径凸非球面检测中的应用  

Application of CGH to Large Convex Aspheric Surface Test

作　　者：朱敏[1] 由凤玲[2] 王科[1] 孙大维[1] 

机构地区：[1]东北电子技术研究所,辽宁锦州121000 [2]北京交通大学理学院,北京100084

出　　处：《光电技术应用》2007年第2期38-40,共3页Electro-Optic Technology Application

摘　　要：为了解决当大口径的凸非球面使用特殊材料(如采用碳化硅)时,无法使用传统的检测方法———背部检验的矛盾,研究了使用计算全息法(CGH)来检测大口径凸非球面的原理和方法,并对如何提高计算全息效率进行了分析计算.When the optic component of large convex aspheric surface is made by special material such as SiC, the traditional testing method of the back testing. Can＇t be valuable to resolve the issue, CGH for the large convex aspheric surface is discussed, and the method to improve the diffraction efficiencv is calculated.

关 键 词：二元光学 光学设计 非球面检测 CGH法 

分 类 号：TB851.07[一般工业技术—摄影技术]