内建自测试相移器设计算法的优化  

作　　者：吴玺[1] 刘军[1] 刘正琼[1] 

机构地区：[1]合肥工业大学计算机与信息学院,安徽合肥230009

出　　处：《电子技术应用》2007年第6期31-33,共3页Application of Electronic Technique

摘　　要：在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法。实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率。

关 键 词：伪随机测试 混合模式测试 相移器 线性反馈移位寄存器 故障覆盖率 

分 类 号：TP273.4[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]