伪随机测试

作品数：22被引量：67H指数：3
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伪随机测试激励信号设计
《数码设计》2020年第7期76-77,共2页孙永建 秦鹏 唐景华 
模数混合电路的内建自测试(BIST)研究是近些年比较有挑战的,其中如何以较小的硬件开销获得模拟激励信号以及数据响应分析比较关键。本文将以伪随机信号作为研究对象,对BIST结构的激励模块进行设计伪随机信号,并在QuartusⅡ里进行仿真验...
关键词：BIST 测试激励 LFSR 
基于模型和库的处理器伪随机激励生成器设计与实现被引量：1
《计算机工程与科学》2018年第1期1-9,共9页巨鹏锦 张晓冬 李辉 
核高基"超级计算机处理器研发"课题(2013ZX01028-001-001-001)
面对处理器巨大的验证空间,伪随机激励生成器成为处理器研发中必不可少的工具。处理器设计改变尤其是架构和指令集的变化会导致之前的处理器测试集合部分甚至全部失效,验证维护成本巨大。提出一种层次化的、基于模型和库的处理器伪随机...
关键词：模拟验证 处理器功能验证 伪随机测试 激励生成器 
准完全最大距离伪随机测试研究
《计算机科学》2014年第5期50-54,63,共6页邬晟峰 吴悦 徐拾义 
国家自然科学基金项目(61076123)资助
对超大规模集成电路进行随机测试的测试码之间的距离作了定量分析,在此基础上,改进了最大距离随机测试算法中测试码的生成方法,使得所生成的伪随机测试码集合同时达到最大海明距离与近似最大笛卡尔距离。因此每一个测试码可以尽可能多...
关键词：伪随机测试 海明距离 笛卡尔距离 最大距离测试 准完全最大距离测试 
降低最大距离测试码输入功耗研究
《计算机工程与应用》2014年第8期31-34,107,共5页张鼎 徐拾义 
国家自然科学基金(No.61076123)
伪随机测试在数字系统的故障测试中已经得到了多年的应用,但传统的伪随机测试存在着效率比较低的缺陷。针对该缺陷提出了在伪随机测试方法中引入测试码之间距离的概念。根据测试码之间距离越大,能检测到不同故障的数目概率也越大的假设...
关键词：伪随机测试 最大距离测试 预定距离测试 低功耗测试 生成矩阵 
SPARC体系结构处理器测试方法研究与实现被引量：1
《计算机测量与控制》2011年第3期512-515,共4页张晓静 华更新 刘鸿瑾 
处理器离线测试广泛采用随机测试技术,但是随机测试技术生成大量测试代码,并且测试覆盖率不高;主要针对随机测试的不足,借鉴基于软件内建自测试方法建立处理器模块级于系统级功能模型,后分析功能模型可能发生错误,针对错误模型开发测试...
关键词：微处理器测试 指令集测试 伪随机测试. 
基于伪随机测试的模数混合信号内建自测试法被引量：3
《计算机工程与应用》2008年第30期87-89,共3页刘伟 雷加 
广西自然科学基金 No.0542050~~
利用伪随机序列作为测试激励,通过计算输入输出的互相关函数得到K维特征空间,在特征空间的基础上进行分析,判别电路有无故障,实验证明该方法简单可行,且提高了测试的效率和正确性,适用于模拟及混合信号测试,适用于混合信号电路的内建自...
关键词：伪随机测试 互相关函数 混合信号电路 内建自测试 
内建自测试相移器设计算法的优化被引量：1
《电子技术应用》2007年第6期31-33,共3页吴玺 刘军 刘正琼 
在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法。实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率。
关键词：伪随机测试 混合模式测试 相移器 线性反馈移位寄存器 故障覆盖率 
基于Verilog的随机时钟误差测试平台设计
《吉林大学学报（工学版）》2007年第3期667-671,共5页刘杰 姚素英 史再峰 解晓东 
天津市科委科技重点攻关基金项目(043184511)
结合视频模式识别模块的仿真验证,介绍了一种基于Verilog的随机时钟误差测试平台的设计方法。利用Verilog提供的随机数生成函数,并对其加以改进,生成一组近似高斯分布的随机向量,仿效输入信号的真实行为对模块进行仿真。实验结果表明:...
关键词：电子技术 测试平台 时钟抖动 相位偏差 伪随机测试 
细胞自动机在VLSI测试中的应用被引量：3
《北京理工大学学报》2007年第5期432-435,共4页王颖 陈禾 
研究细胞自动机(CA)在超大规模集成电路(VLSI)伪随机测试中作为测试激励的结构和实现方法.通过对线性反馈移位寄存器(LFSR)生成序列的采样,获得另一移位不等价序列,综合出其本原多项式,并根据CA与LFSR同态的理论综合出CA的结构,通过快...
关键词：细胞自动机 线性反馈移位寄存器 伪随机测试 
数字IP芯核的多特征比较内建自测试方法(英文)被引量：2
《四川大学学报（工程科学版）》2006年第6期153-158,共6页谢永乐 王玉文 陈光 
国家自然科学基金资助项目(90407007)
由于不确知那些不属于IP芯核测试集的测试矢量的无故障响应,造成在伪随机测试下测试者无法获取被测IP芯核的无故障特征,上述事实构成了测试数字IP芯核的挑战之一。基于多特征检验原理,研究了适用于数字IP芯核的内建自测试(B IST)实现方...
关键词：IP芯核 内建自测试 伪随机测试 测试响应压缩 
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