基于优势点检测的晶粒轮廓非均匀B样条逼近  

作　　者：赵秀阳[1] 尹衍升 杨波[3] 

机构地区：[1]济南大学信息学院,济南250022 [2]中国海洋大学材料学院,青岛266003 [3]武汉理工大学材料复合新技术国家重点实验室,武汉430070

出　　处：《中国科学（E辑）》2007年第7期851-856,共6页Science in China(Series E)

基　　金：国家"863"计划(编号:2002AA332100);国家自然科学基金(批准号:50672090)资助项目

摘　　要：进行复合材料三维重构的一个重要步骤是获取晶粒轮廓简洁的、光顺的数学表达.在利用小波变换技术和Level set技术得到陶瓷复合材料晶粒闭合边缘的基础上,根据晶粒轮廓的特点,研究了其特征型值点的合理提取方法:提取晶粒轮廓上高曲率的点作为候选点,利用自适应弯曲度来确定曲线上每个点的支撑区间,计算评价曲率,依据评价曲率和最大采样间隔确定合理的优势点.采用周期非均匀3次B样条曲线逼近的方法,得到控制误差条件下最简洁的晶粒轮廓曲线.根据所传递的候选节点矢量,采用柔性间距选择,获取序列轮廓的共同的节点矢量,采用蒙皮技术获得陶瓷复合材料晶粒的3次B样条曲面模型.

关 键 词：复合材料 B样条 优势点 控制点 晶粒轮廓 

分 类 号：TB33[一般工业技术—材料科学与工程] TB112[理学—数学]