化学计量学与X射线荧光光谱分析  

The Application of Chemometrics to X_Ray Fluorescence Analysis

作　　者：罗立强[1] 郭常霖[1] 吉昂[1] 马光祖 

机构地区：[1]中国科学院上海硅酸盐研究所 [2]地矿部岩矿测试技术研究所

出　　处：《岩矿测试》1997年第2期128-137,共10页Rock and Mineral Analysis

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：简要回顾了Ｘ＿射线荧光分析中数学校正模型的发展进程；阐述了基体校正方程与化学计量学之间的关系；介绍了偏最小二乘回归、神经网络、专家系统和模式识别等近期研究成果；以及轻元素测定、微束和薄层分析等数据处理技术。Recent work on chemometrics in X_ray fluorescence analysis is reviewed. Emphasis is placed on partial least squares, pattern recognition, neural networks and expert system, because thier extensive use in analytical chemistry and important role in X_ray fluorescence analysis. In addition, special attention is also paid to the development of microbeam X_ray fluorescence, coating and thin films, and light element analysis.

关 键 词：化学计量 X射线荧光 光谱分析 分析化学 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学] TB9[理学—化学]