检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:江月山[1] 王晓光[1] 杨乃恒[1] 高聚宁[2] 刘宁 杨海强 时东霞[2] 庞世瑾[2]
机构地区:[1]东北大学真空工程系,沈阳110006 [2]中国科学院北京真空物理实验室,北京100080
出 处:《真空科学与技术》1997年第4期264-268,共5页Vacuum Science and Technology
摘 要:在很多情况下,扫描隧道显微镜(STM)图像的几何形貌方面的误差主要是由压电陶瓷的漂移、X扫描器和Y扫描器的压电系数的不一致性和压电陶瓷扫描时的非正交性引起的。本文建立了一种物理数学模型来校正这些误差,取得了满意的结果。即使在漂移的状态下,也可以利用已知结构的表面对STM仪器进行校准(例如,高定向石墨表面)。用校准以后的STM仪器,可以获得样品表面的真实图像,并使对样品进行原子级的测量成为可能。In quite a few cases,the image distortion of a scanning tunneling microscope(STM)is essentially caused by thermal drift,the different piezoelectric constants between the X and Y scanners and the nonorthogonal scanning. A physical and mathematical model is proposed to correct such distortions,with satisfactory results. Using this model,one can perform the STM calibration with a known surface structure (for example,the highly oriented pyro1ytic graphite surface) even in the presence of a drift. Using such a calibrated STM and the described model,it is possible to obtain the real STM driage and make measurements for unknown surfaces on the atomic scale.
分 类 号:TN16[电子电信—物理电子学] TM282[一般工业技术—材料科学与工程]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.3