基于量子进化算法的时序电路测试生成  

Test Pattern Generation Based on Quantum Evolutionary Algorithm for Sequential Circuits

作　　者：李智[1] 范源远[1] 许川佩[1] 

机构地区：[1]桂林电子科技大学电子工程学院,桂林541004

出　　处：《微计算机信息》2007年第35期290-291,310,共3页Control & Automation

基　　金：国家自然科学基金(编号:60266001)资助项目;广西自然科学基金项目(桂科字0542051)

摘　　要：本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点,本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统的测试生成算法中,建立了时序电路的量子进化算法测试生成模型。在国际标准电路上的验证结果表明,与同类算法相比,该算法模型可获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。This paper presented some results obtained by applying quantum evolutionary algorithm in sequential circuits test pattern genero ation（ATPG）. In the paper, concepts like qubit and superposition of quantum computation were introduced to conventional evolution algo- rithm, to build a quantum-inspired evolution algorithm model for ATPG. Experiments on ISCAS benchmark shows, compared to other similar algorithm, the proposed algorithm can achieve higher fault coverage and more compact test sets.

关 键 词：量子进化算法 自动测试生成 时序电路 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置] TN407[自动化与计算机技术—控制科学与工程]