自动测试生成

作品数：15被引量：26H指数：3
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通用图形处理器GPGPU在自动测试生成中的应用被引量：2
《集成电路应用》2020年第5期34-35,共2页黄宇翔 
广东省教育系统科技创新课题项目。
探索加速自动测试生产的效率,对降低集成电路测试成本、缩短设计周期有着重要意义。基于通用图形处理器GPGPU的特性,以及自动测试的运行过程,探索GPGPU对自动测试生成的加速效果。
关键词：集成电路制造 通用图形处理器 自动测试 生成 加速 
时序电路测试生成新算法研究被引量：1
《无线电工程》2008年第7期49-52,共4页黄玉玲 王勇 
广西自然科学基金项目(桂科自05420510)
为解决同步时序电路的测试难题,提高时序电路测试生成效率,进行了时序电路测试生成算法的研究,将粒子群优化算法应用在时序电路的测试生成中。为验证PSO算法性能,首先将其用于函数优化,能获得较好的优化结果。之后建立自动测试生成离散...
关键词：PSO算法 函数优化 惯性权重模型 自动测试生成 
一种基于双约束传播的面向路径自动随机测试方法
《计算机应用》2008年第4期1032-1034,1064,共4页黄远东 卢江 赵瑞莲 
随机测试是一种常用的软件测试自动化方法。该方法随机地从程序输入域中选取测试输入,其自动测试实现容易。但随机地从输入域中选取满足某种测试准则的输入数据,测试生成效率较低。为此提出了一种基于双约束传播的面向路径自动随机测试...
关键词：约束传播 随机测试 自动测试生成 路径测试数据 
基于量子进化算法的时序电路测试生成被引量：2
《微计算机信息》2007年第35期290-291,310,共3页李智 范源远 许川佩 
国家自然科学基金(编号:60266001)资助项目;广西自然科学基金项目(桂科字0542051)
本文介绍将量子进化算法应用在时序电路测试生成的研究结果。结合时序电路的特点,本文将量子计算中的量子位和叠加态的概念引入传统的测试生成算法中,建立了时序电路的量子进化算法测试生成模型。在国际标准电路上的验证结果表明,与同...
关键词：量子进化算法 自动测试生成 时序电路 
含存储器数字电路系统的自动测试生成
《计算机工程》2007年第23期252-254,260,共4页成本茂 杨士元 王红 鞠艳秋 
国家"973"计划基金资助项目(2005CB321604)
已有的数字电路自动测试生成(ATPG)软件没有存储器的结构模型,不支持对存储器电路的自动测试生成。该文分析了2类存储器的功能特征,提出了面向测试的ROM和RAM结构模型的建立方法,其中,ROM根据所储存的数据等效成组合电路模型,RAM利用新...
关键词：存储器 结构模型 自动测试生成 故障仿真 
基于分布估计算法的组合电路测试生成被引量：2
《电子学报》2006年第B12期2384-2386,共3页赵中煜 彭宇 彭喜元 
基于遗传算法生成的测试矢量集的故障覆盖率要低于确定性方法.本文分析指出造成这种现象的一个可能原因在于,组合电路测试生成过程中存在高阶、长距离模式,从而导致遗传算法容易陷入局部极值或早熟收敛.为此,本文首次提出使用分布估计...
关键词：分布估计算法 自动测试生成 组合电路 
提高瞬态电流自动测试生成时间效率的方法
《计算机应用研究》2006年第6期82-84,共3页张鑫 邝继顺 
国家自然科学基金资助项目(60173042)
瞬态电流测试可以检测一些用电压测试和稳态电流测试不能检测的故障。对每一个故障都进行一次测试生成所花费的时间太多,而且没有必要。针对用瞬态电流测试来检测晶体管开路故障(Stuck-open Fault),研究精简故障数目,提高测试生成效率...
关键词：测试生成 开路故障 可控制性 CMOS数字电路 
基于粒子群算法的时序电路测试生成被引量：6
《电子测量与仪器学报》2006年第1期6-9,共4页许川佩 李智 莫玮 
国家自然科学基金(编号:60266001)资助项目广西自然科学基金项目(桂科自0542051)
本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果。结合时序电路的特点,构造测试生成的粒子表达方式,建立自动测试生成离散粒子群速度-位置模型,通过群体中粒子间的合作与竞争产生的群体智能指导优化搜索。针对国际标准时...
关键词：粒子群算法 自动测试生成 时序电路 
数字电路自动测试生成实用化软件被引量：4
《计算机应用研究》2006年第1期174-176,203,共4页白玉媛 杨士元 王红 
介绍了针对ATE应用和TPS开发的需要首次在W indows NT平台上研制的一套数字电路诊断测试数据自动生成的实用化软件系统OCTOPUS100。该软件与已有的ATPG软件相比具有成本低,有利于推广等优点。该软件具有灵活性、实用性和通用性,经实验...
关键词：自动生成 测试向量 故障诊断 
寄存器传输级测试用例生成算法被引量：1
《计算机辅助设计与图形学学报》2005年第9期2053-2060,共8页高燕 沈理 
国家"八六三"高技术研究发展计划(2002AA111100;2002AA110010)
基于控制流图数据流图层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观测覆盖为目标,给出一个高层测试用例生成算法,并最终实现一种可行的RTL级测试生成算法.实验结果表明,在较少的测试生成时间下,该法可生成相对短的测试序列,得到与其他...
关键词：集成电路 自动测试生成 寄存器传输级 测试用例 
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