基于粒子群算法的时序电路测试生成  

Automatic Test Pattern Generation Based on Partide Swarm Optimization Algoritfam for Sequential Circuits

作　　者：许川佩[1,2] 李智[2] 莫玮[2] 

机构地区：[1]西安电子科技大学机电工程学院,西安710071 [2]桂林电子工业学院电子工程系

出　　处：《电子测量与仪器学报》2006年第1期6-9,共4页Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

基　　金：国家自然科学基金(编号:60266001)资助项目广西自然科学基金项目(桂科自0542051)

摘　　要：本文论述了将粒子群算法应用在时序电路自动测试生成的研究结果。结合时序电路的特点,构造测试生成的粒子表达方式,建立自动测试生成离散粒子群速度-位置模型,通过群体中粒子间的合作与竞争产生的群体智能指导优化搜索。针对国际标准时序电路的验证结果表明,与同类算法相比,该算法可以获得较高的故障覆盖率和较小的测试矢量集。This paper discussed the results achieved by applying particle swarm optimization algorithm to automatic test pattern generation of sequential circuits. By combining the characteristics of sequential circuits and constructing partiele expression of test generation, the paper made the speed-position model of discrete particle swarm optimization for automatic test generation. The optimized search is guided by the swarm intelligent generated from cooperation and competition among particles of swarm. The experimental results for benchmark eireuits show that the proposed algorithm can achieve higher fault coverages and more compact test sets when compared to other similar test generation algorithms.

关 键 词：粒子群算法 自动测试生成 时序电路 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学] TS210.3[轻工技术与工程—粮食、油脂及植物蛋白工程]