X线头影测量不调值对口腔正畸诊断的影响  

作　　者：冯兴梅[1] 倪桂凤[1] 沈小波[1] 张健[1] 姚淑萍[1] 

机构地区：[1]南通大学附属医院口腔科,江苏226001

出　　处：《交通医学》2007年第6期741-741,共1页Medical Journal of Communications

摘　　要：目的:探讨X线头影测量不调值对正畸诊断的影响。方法:对41例正畸病例进行模型分析(牙弓长度拥挤度s、pee's曲线、Bolton指数、上下第一磨牙的关系的分析、测量)及头颅定位侧位片FMIA值的测量,计算X线头影测量不调值=(57-FMIA)×0.8。结果:仅作模型分析和模型分析结合X线头颅定位侧位片FMIA值的测量两种计算值对正畸诊断结果差异有统计学意义。结论:下颌拥挤的总体不调值应加上X线头影测量不调值。

关 键 词：X线头影测量 模型分析 FMIA值 口腔正畸 

分 类 号：R783.5[医药卫生—口腔医学]