ZnO压敏陶瓷热处理实验的研究  

Studies of Thermal Treatment Experiment in ZnO Voltage Sensitive Ceramic

作　　者：朱梓英[1,2] 吴奕初[1,2] 林国淙[1,2] 陈志雄[1,2] 傅刚[1,2] 

机构地区：[1]中山大学物理学系 [2]广州师范学院物理学系

出　　处：《中山大学学报（自然科学版）》1997年第4期37-42,共6页Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni

摘　　要：ＺｎＯ压敏陶瓷在工作电压长期作用下，会产生电流蠕变现象，使Ｓｃｈｏｔｋｙ势垒不稳定．用正电子湮没技术（ＰＡＴ）证实：ＺｎＯ在适当温度下的氧化热处理。Voltage sensitive ZnO ceramic is shown to produce current creep when voltage is applied for a long period, which results in the instability of Schottky barrier. The PAT studies prove that if ZnO is treated by oxidation at a suitable temperature, oxygen ion O - or O 2- can be absorbed into intergranular boundaries, which improves the ceramic property stability.

关 键 词：正 电子 压敏陶瓷 热处理 氧化锌陶瓷 稳定性 

分 类 号：TM282[一般工业技术—材料科学与工程] TQ174.756[电气工程—电工理论与新技术]