基于JTAG的嵌入式调试技术的研究  被引量:5

Research of Embedded Debug Based on JTAG

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作  者:彭德刚[1] 周慧玲[1] 刘淼[1] 

机构地区:[1]北京邮电大学自动化学院,北京100876

出  处:《仪表技术》2008年第3期24-26,29,共4页Instrumentation Technology

摘  要:文章以ARM7TDMI处理器为例,详细分析了JTAG调试嵌入式处理器的工作原理,研究了JTAG下载程序的效率问题,并针对ARM处理器提出了一个具有普遍意义的高效下载程序的算法。The theory of debugging an embedded processor through JTAG based on ARM7TDMI is described. The efficiency of downloading program with JTAG is analyzed. A general downloading algorithm of high performance is put forward for ARM.

关 键 词:ARM JTAG 嵌入式调试 

分 类 号:TM930[电气工程—电力电子与电力传动]

 

参考文献:

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二级参考文献:

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引证文献:

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