检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室,上海200433
出 处:《复旦学报(自然科学版)》2008年第1期45-49,共5页Journal of Fudan University:Natural Science
摘 要:针对常用的随机测试生成方法的弱点,提出一种用于IEEE浮点乘法验证的边界条件筛选测试生成方法.其基本思路为:对待测算法边界条件建模;求解边界条件;用求得的解构造筛选操作数的标准;筛选操作数实现测试.应用该方法于典型芯片Intel387SX和实际设计项目C387L数学协处理器,证实该方法比随机测试生成方法更为可靠.A test generation for FP multiplication verification in compliance with IEEE Standard 754. The basic procedure is: modeling the boundary condition of the FP arithmetic, getting the solution of this modeling, then constructing a filtering standard with the solution and filtering the operand to carry out the test. Application of this method to typical chip Inte1387SX and math coprocessor C387L shows that this method is more efficient than random testing.
关 键 词:浮点运算 IEEE754标准 修正模式 随机测试 边界筛选
分 类 号:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
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