程君侠

作品数：35被引量：101H指数：5
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供职机构：复旦大学信息科学与工程学院专用集成电路与系统国家重点实验室更多>>
发文主题：电路高性能设计方法CPU专用集成电路更多>>
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发文期刊：《微电子学》《微电子学与计算机》《电子元器件应用》《信息技术与标准化》更多>>
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基于0.13μm工艺的切断反馈回路单粒子效应加固电路的研究
《复旦学报（自然科学版）》2010年第2期158-164,共7页孙鹏 沈鸣杰 程君侠 郑国祥 曾韡 
对0.13μm工艺下的切断反馈回路的单粒子效应加固电路进行了研究,对其机理进行了分析,并对该结构进行了单粒子瞬变效应加固方面的改进,进而提出一种新的单粒子效应加固的D触发器,在0.13μm工艺下进行了SPICE模拟验证,可以在100 MHz的工...
关键词：0.13μm 漏电流 单粒子效应加固 D触发器 
一种用于浮点乘法的边界筛选伪随机测试方法
《计算机工程》2008年第8期273-274,280,共3页周汇 俞军 程君侠 华霞 
复杂测试空间中难以命中的冷僻细节,导致在IEEE浮点算法测试过程中难以验证单条浮点运算的正确性。该文针对传统直接随机测试方法的缺点,提出一种边界筛选生成案例的测试方法。该方法对待测算法边界条件建模,求解边界条件,利用解来构造...
关键词：浮点运算 随机测试 修正模式 IEEE754标准 边界筛选 
浮点乘法验证中的一种边界点测试方法
《复旦学报（自然科学版）》2008年第1期45-49,共5页周汇 俞军 程君侠 华霞 
针对常用的随机测试生成方法的弱点,提出一种用于IEEE浮点乘法验证的边界条件筛选测试生成方法.其基本思路为:对待测算法边界条件建模;求解边界条件;用求得的解构造筛选操作数的标准;筛选操作数实现测试.应用该方法于典型芯片Intel387S...
关键词：浮点运算 IEEE754标准 修正模式 随机测试 边界筛选 
基于单片FPGA的可扩展DVI发送器被引量：4
《半导体技术》2007年第12期1060-1064,共5页吴晓铁 俞军 程君侠 
电子信息产业发展基金资助项目(财建[2007]215号;信部运[2007]292号)
介绍了当前主流的DVI数字视频协议,特别分析了TMDS的链路结构、信号特性和编码算法。针对目前DVI设计中的不足,给出了一个符合DVI1.0规范的基于单片FPGA的可扩展视频发送器的实现方法,具备某些传统方案无法完成的特性。它充分利用FPGA...
关键词：数字视频接口 双倍数据速率 最小变换差分信号 高清晰度多媒体接口 
一种有效降低测试时间的SOC扫描测试设计方法
《微电子学》2007年第5期756-760,共5页石亦欣 李蔚 俞军 程君侠 
随着集成电路规模的迅速增大,巨大的测试向量带来的测试成本压力已成为芯片产品成本考虑中一个不可忽略、甚至非常关键的要素。针对目前大规模SOC芯片测试成本高的问题,提出了一种通过测试扫描链复用来减少测试时间的方法。试验数据表明...
关键词：SOC 可测试性设计 扫描测试 扫描测试向量压缩技术 自动测试向量产生 
多媒体SOC芯片的低功耗设计被引量：2
《半导体技术》2007年第9期796-799,共4页马庆容 程君侠 沈磊 
从集成电路功耗原理出发,分析了CMOS电路功耗的来源,从集成电路设计的系统级、算法级、架构级、电路/门级以及工艺/器件级五个抽象层次出发,整理、总结了当前主要的低功耗设计方法,并在实际的移动多媒体处理应用SOC芯片设计中,平衡产品...
关键词：低功耗 芯片上系统 设计方法 
改进型抗单粒子效应D触发器被引量：4
《半导体技术》2007年第1期26-28,32,共4页赵金薇 沈鸣杰 程君侠 
在对抗单粒子效应技术研究的基础上,构造了一种改进型的抗单粒子翻转和单粒子瞬变的主从型边沿D触发器。该D触发器在不影响设计流程的情况下能使得整个芯片都具有抗单粒子效应,并有效改善了以往由于引入抗辐射设计而导致芯片面积大幅度...
关键词：抗辐射加固 单粒子效应 单粒子翻转 单粒子瞬变 D触发器 
适用于Flash Memory的负高压泵的实现被引量：7
《微电子学与计算机》2007年第1期21-24,共4页周钦 钱松 程君侠 
提出一种适用于单电源,低电压供电的FlashMemory的负高压电荷泵的实现方法。在分析传统电荷泵工作原理的基础上,结合Flash工作电压和参数要求,提出三阱工艺,无阈值损失的负高压电荷泵电路结构。最后在0.22!mFlash工艺下给出测试结果。
关键词：半导体技术 快闪存储器 电荷泵 负高压 三阱工艺 
分支结构电路的可测性设计优化
《复旦学报（自然科学版）》2006年第1期92-95,101,共5页应俊 柳逊 程君侠 
在硬件设计的初期可以对硬件测试中条件分支结构引起的测试向量冗余问题加以解决.以ALU为例,提出了两种分支结构电路的可测性优化设计,通过调整分支电路的选择条件来控制测试向量的施加,在保证错误覆盖率的同时可以明显减少不必要的测...
关键词：集成电路 分支结构 可测性设计 内建自测试 测试向量 故障覆盖率 
一种闪存适用新型高速高驱动电压泵设计
《复旦学报（自然科学版）》2005年第6期935-940,共6页苏志强 俞军 程君侠 
提出了一种适用于低电压供电Flash Memory的新型高速高驱动电压泵的设计方法.在分析电压泵工作原理和结构演变并指出当前实现方法在驱动和响应上的制约因素的基础上,结合目前先进Flash Memory工作电压和工作要求,提出了结合三阱工艺和CT...
关键词：半导体技术 电压泵 闪存 低电压 CTS 三阱 
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