智能机内测试模拟系统中对微处理机的接入电源测试  

作　　者：姬建新[1] 

机构地区：[1]西安理工大学高等技术学院,陕西西安710082

出　　处：《科技创新导报》2008年第9期198-198,共1页Science and Technology Innovation Herald

摘　　要：机内测试技术(Built-in Test,简称BIT)是一种能显著改善装备或系统测试性与诊断能力的重要技术手段。智能机内测试模拟系统是运用智能BIT技术的理论,开发出的一个对硬件设备在线测试的模拟系统。智能机内测试模拟系统在对智能的模拟方面运用嵌入式C语言中的数组,随机函数等方法来实现。从而体现出智能机内测试的特点。本文描述了系统中对输入电源部分的测试过程。

关 键 词：机内洲试技术智能BIT技术嵌入式C语言模拟系统 

分 类 号：G623[文化科学—教育学]