单片微机系统RAM自检的研究  

作　　者：李力[1] 林凌[2] 

机构地区：[1]江苏理工大学机电学院 [2]天津大学

出　　处：《计算机工程与应用》1997年第10期46-48,共3页Computer Engineering and Applications

摘　　要：在各种单片微机测控系统中，ＲＡＭ的正常与否直接关系到系统的正常工作，ＲＡＭ的自检可以有效地避免ＲＡＭ不正常给系统带来的损害。本文讨论了单片微机应用系统中ＲＡＭ自检的方法。

关 键 词：RAM 单片机 存储器 

分 类 号：TP333.8[自动化与计算机技术—计算机系统结构]