检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]天津市计量监督检测科学研究院,天津300100
出 处:《工业计量》2008年第A01期5-6,共2页Industrial Metrology
摘 要:近年来,光学密度测量技术被广泛应用于印刷行业、照相行业、化工行业、医疗检测、探伤检测和工业制造行业中,成为日新月异的新兴技术发展方向。反射密度测量和透射密度测量是黑白和彩色摄影技术及印刷控制等领域的重要技术评价参数,可用于加工过程的胶片、相纸、印刷品的黑白、彩色摄影的评价。
关 键 词:反射式 校准方法 光密度计 印刷行业 技术发展方向 探伤检测 技术评价 密度测量
分 类 号:TS807[轻工技术与工程] TB565.1[交通运输工程—水声工程]
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