PT-PEK-c电光聚合物薄膜的厚度和介电性质  

THICKNESS AND DIELECTRICAL PROPERTY OF PT-PEK-c ELECTROOPTIC POLYMER FILM

作　　者：任诠[1] 王志刚[1] 郭世义[2] 许东[2] 尚淑霞[3] 

机构地区：[1]山东大学光学系,济南250100 [2]山东大学晶体材料研究所,济南250100 [3]山东大学实验中心,济南250100

出　　处：《光子学报》1997年第12期1115-1118,共4页Acta Photonica Sinica

基　　金：国家自然科学基金;晶体材料国家重点实验室开放经费资助

摘　　要：研制了新的PT－PEK－c电光聚合物薄膜材料，用准波导耦合m线方法测量了PT－PEK－c电光聚合物薄膜的厚度，并测量了该聚合物薄膜在1×102Hz到1×107Hz频率范围内的室温介电常数．测量结果为：厚度d=2.328±0.315μm，在10KHz下，介电常数εr＝4023±0．063，介电损耗tanδ＝0．003．A new PT-PEK-c electrooptic polymer film has been prepared and investigated. Thethickness of the film has been measured by using the quasi-waveguide m-line method. the dielectricconstants of the new material have been measured at room-temperature in the frequency range from1× 10zHz to 1× 107Hz. The results have shown that the thickness of the film is 2. 328±0.315um andthe room-trmperature dielectric constant is 4. O23±0．063 and dielectric loss tanδ is 0．003 at 10KHz.

关 键 词：聚合物薄膜 介电性质 厚度测量 薄膜 非线性 

分 类 号：O484.4[理学—固体物理] O484.5[理学—物理]