氦质谱正压检漏——吸枪积累法  被引量:1

Pressure Leak Detection of Helium Mass Spectrometer —Accumulated Method of Sniffer Probe

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作  者:郭君强[1] 梁进忠[1] 李树德 

机构地区:[1]首都航天机械公司

出  处:《真空》1997年第6期31-34,共4页Vacuum

摘  要:本文对氦质谱正压检漏的一般技术要求,如:被检系统的包封、积时间、探测时间。A brief introduction to the technical demands for pressure leak detection of He mass spectrometer is presented in this article. For example, packing of the detected system, accumulated time, testing time, calibration and application are included.

关 键 词:氦质谱正压检漏 质量控制 检测技术 真空检漏 

分 类 号:TB774[一般工业技术—真空技术]

 

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