X射线荧光分析仪测量精确度和工作条件及其谱形关系  

The instrumental condition, spectrum shape and measuring precision of an X-ray fluorescence analyzer

作　　者：顾连学[1] 乐安全[1] 谷英梅[1] 林金锌[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海原子核研究所

出　　处：《核技术》1990年第4期220-223,共4页Nuclear Techniques

摘　　要：本文通过分析同位素X射线荧光分析仪的工作条件和谱形的关系,来判选仪器的正确工作条件,以此提高仪器系统长期测量精确度。By analyzing the spectrum shapes related to the instrumental condition, an optimized instrumental condition of the X-ray fluorescence analyzer is proposed in present paper, so as to improve the long-term measuring precision of the analyzer.

关 键 词：X射线 荧光分析仪 精确度 测量 

分 类 号：TL817.1[核科学技术—核技术及应用]