乐安全

作品数：12被引量：22H指数：3
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供职机构：中国科学院上海原子核研究所上海应用物理研究所更多>>
发文主题：微束X荧光X射线荧光涂层测厚仪X射线更多>>
发文领域：核科学技术机械工程理学一般工业技术更多>>
发文期刊：《电子显微学报》《核技术》《核电子学与探测技术》《同位素》更多>>
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人工神经网络和最小二乘回归在XRF定量分析中的应用比较被引量：4
《核技术》1999年第12期725-729,共5页郭盘林 王基庆 乐安全 朱节清 
国家自然科学基金;中国科学院的资助
采用人工神经网络的误差反向传输算法，定量分析了Ｐｔ、Ｐｄ二元合金的荧光Ｘ射线能谱，并与最小二乘回归法进行了比较。
关键词：神经网络 最小二乘回归 荧光X射线能谱 铂钯合金 
用XRMF分段多项式回归法定量分析铂钯合金被引量：1
《光谱学与光谱分析》1999年第6期871-874,共4页郭盘林 王基庆 朱节清 乐安全 
国家自然科学基金
在Ｘ射线荧光分析中，当基体效应严重时，工作曲线变得很复杂，仅用一条曲线来拟合，误差较大。为此， 采用分段的方法， 将工作曲线分成四段， 逐段拟合， 取得了很好的效果。拟合工作曲线时， 所使用的铂钯合金标样， 由Ｘ射线微探针...
关键词：X射线微探针 多项式回归 铂钯合金 XRMF 
核探针技术的初步应用被引量：2
《核技术》1993年第7期385-392,共8页朱节清 乐安全 陆荣荣 谷英梅 杨长义 李民乾 
国家自然科学基金;No.19145003
使用新建成的核探针开展了阿米巴细胞中微量元素锌的含量及其分布的观察;锰矿物中微米级矿粒和矿物相的分析;深海锰结核内微米级层状结构的分析;反球化元素对球墨铸铁的影响以及微量元素的偏析造成不锈钢零件局域性断裂的研究。
关键词：核探针 阿米巴细胞 球墨铸铁 应用 
一台新建的核探针及其应用被引量：1
《电子显微学报》1993年第3期291-295,共5页朱节清 毛羽 李民乾 谷英梅 乐安全 陆荣荣 
介绍了新建成的一台核探针的构造。它的主要特点是:采用长焦距四极透镜、以综合分析为目标的多探测器系统、快速随机扫描、多参量事件方式数据获取、全定量扫描分析(TQSA)方式处理数据等。这些特点使这台核探针成为医学生物、冶金、微...
关键词：核探针 扫描质子微探针 质子激发 X射线荧光分析 
微束X射线荧光分析被引量：4
《光谱学与光谱分析》1993年第3期79-82,92,共5页乐安全 朱节清 谷英梅 
国家自然科学基金
用能量色散微束X射线荧光分析仪实际测量了微束准直器孔径和X射线强度对微束空间分辨率的影响,在准直器孔径为0.1mm条件下,获得以FWHM定义的空间分辨率最好为0.073mm。通过微束扫描测量出某硫化锰矿微区内的Mn、Fe、Zn、Pb的三维等高线...
关键词：微束 X射线 荧光分析 
XYH-86小面积X荧光涂层测厚仪被引量：4
《核技术》1991年第9期513-519,共7页乐安全 林金锌 朱节清 谷英梅 顾连学 韩发生 徐君权 王裕政 王志芳 
本仪器利用X射线荧光分析原理和微机技术研制而成的。以小型X射线管作激发源,射线用小孔准直,样品用光学定位,样品最小测量面直径为0.1mm。微机多道实时显示能谱。它能快速、精确、无损测量多种微小面积上的单、双涂层厚度和合金涂层厚...
关键词：小面积 X射线荧光 涂层测厚仪 
用于放射性应用仪表的低能小功率X射线源被引量：2
《核技术》1990年第8期478-480,共3页谷英梅 朱节清 乐安全 
本文描述了一台管激发的小功率X射线源。它的特点是结构紧凑、能谱和强度稳定性好、发射面积小。目前它已成功地用干XYH-86型小面积X射线荧光镀层测厚仪中。使用结果表明,该小功率X射线源的性能满足同类同位素仪表的要求。
关键词：X射液源 高压电源 放射性 仪表 
小面积X射线荧光涂层测厚仪
《同位素》1990年第3期175-177,共3页乐安全 
一、引言在某些产品或零部件表面涂(镀)一层很薄的保护层,是提高其耐磨性,耐蚀性或改善外观装饰的有效方法之一。由于该涂层的厚度不仅影响产品质量和成本,还与它本身的性质密切有关,因此无论是研究涂层本身的性质、结构和涂复工艺。
关键词：小面积 X射线荧光 涂层厚度 
黄铜镀层成份分析仪被引量：1
《核技术》1990年第5期289-292,共4页乐安全 谷英梅 顾连学 
本文简要介绍了黄铜镀层成份分析仪的测量原理和结构。它能快速、无损、精确地测定铁、镍基底上黄铜镀层(厚度为3—5μm)中的铜、锌百分含量,分析铜含量的精确度为0.6％。测量结束能显示和打印出铜、锌含量和铜含量误差。
关键词：黄铜 镀层 成份 分析仪 X荧光 
X射线荧光分析仪测量精确度和工作条件及其谱形关系被引量：5
《核技术》1990年第4期220-223,共4页顾连学 乐安全 谷英梅 林金锌 
本文通过分析同位素X射线荧光分析仪的工作条件和谱形的关系,来判选仪器的正确工作条件,以此提高仪器系统长期测量精确度。
关键词：X射线 荧光分析仪 精确度 测量 
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