基于磁共振图像的脑皮层厚度测量方法  

Cortical thickness measurement based on MR images

作　　者：吕彬[1] 何晖光[1] 赵明昌[1] 吕科[2] 张志强[3] 卢光明[3] 

机构地区：[1]中国科学院自动化研究所复杂系统与智能科学重点实验室,北京100190 [2]中国科学院研究生院,北京100049 [3]南京军区南京总医院医学影像科,江苏南京210002

出　　处：《中国医学影像技术》2008年第6期955-958,共4页Chinese Journal of Medical Imaging Technology

基　　金：国家自然科学基金面上项目(30670530,30670600);国家高技术研究发展计划863基金(2007AA01Z327);北京市科技新星计划(2007A094)资助

摘　　要：基于磁共振图像的脑皮层厚度测量方法,是在图像处理的基础上对脑灰质组织结构进行活体定量估计的一种新的技术。本文介绍了脑皮层厚度测量与分析方法的基本流程,并将现有几种流行的测量方法进行总结和归纳,最后比较分析了这些算法的测量精度和运行速度。Cortical thickness measurement based on MR images is a relative newly technique, which could carry out quantitative analysis of brain gray matter in vivo. In this paper, we introduce the basic processing steps of cortical thickness measurement and the current state-of-the-art methods; at last, we compare the efficiency and precision of these algorithms.

关 键 词：医学图像处理 脑皮层厚度 分割 网格表面重建 

分 类 号：TP317.4[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]