Hg_(1-x)Cd_xTe液相外延层表面交错直线线痕的形貌分析  被引量:1

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作  者:陶长远[1] 

机构地区:[1]昆明物理研究所

出  处:《红外与激光技术》1990年第2期36-40,共5页

摘  要:以CdTe为衬底的Hg_(1-x)Cd_xTe液相外延层表面边角处时常出现交错直线线痕,其所及之处破坏了表面的光洁度和平整性.对交错直线线痕进行了研究分析,并首次提出CdTe衬底中交错位错排的存在,导致Hg_(1-x)Cd_xTe液相外延层表面交错直线线痕的形成,再现性实验充分证明了这一推断的正确性。

关 键 词:HGCDTE 液相外延 表面缺陷 金相 

分 类 号:TN304.22[电子电信—物理电子学]

 

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