检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]电子科技大学,成都610054 [2]模拟集成电路国家级重点实验室
出 处:《微电子学》2008年第4期534-539,共6页Microelectronics
摘 要:随着集成电路的迅速发展,特别是数模混合电路的广泛应用,静电放电(ESD)已成为导致集成电路内部静电损伤的可靠性问题,它常常在集成电路的输入、输出端口以及从电源到地的电路内部形成,给芯片的制造和设计带来了很大的困难。文章对芯片防静电保护电路进行了总结,分析和讨论了几种数模混合电路防静电保护技术。With rapid development of IC's and wide application of digital/analog mixed-signal IC's, ESD is becoming one of serious problems to affect the reliability of IC' s. It brings so many challenges to IC design and manufacture. The on-chip ESD protection circuits are summarized. And a variety of ESD protection circuits and technologies for digital/analog mixed-signal IC's are analyzed and discussed in particular.
分 类 号:TN43[电子电信—微电子学与固体电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.28