基于DNA-GA算法的SOC测试结构优化  

作　　者：颜学龙[1] 李志娟[1] 

机构地区：[1]桂林电子科技大学电子工程学院,桂林541004

出　　处：《仪器仪表用户》2008年第5期109-111,共3页Instrumentation

基　　金：广西区自然基金资助项目(0542050)

摘　　要：在SOC测试中,如何对Wrapper和TAM进行组合优化是减少系统芯片(SOC)的测试时间的重点。本文运用BFD(Best Fit Decrea-sing)算法来优化Wrapper,并重点论述了基于DNA计算和遗传算法的DNA-GA算法在在SOC测试结构优化中的应用。DNA-GA算法采用DNA双螺旋结构和碱基互补配对原则进行编码,并引入基因级的遗传操作来得到问题的解。针对国际标准系统芯片(SOC)验证表明,与其他算法相比,该算法能够较好地减少SOC的测试时间。

关 键 词：SOC 测试结构 DNA—GA算法 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]