采用焦平面上非均匀性校正技术的红外成像系统  

作　　者：高 

出　　处：《红外》2008年第9期36-36,共1页Infrared

摘　　要：本发明提供一种红外成像系统，它采用了一个上面包含探测器元件、读出电路和非均匀性校正电路的焦平面列阵。焦平面列阵上的各个探测器元件是与被成像的红外场景的像元相对应的，它们之间的非均匀性会导致来自各像元的探测信号产生偏差。当相应的探测器元件的信号被读出时，通过存储各探测器元件的偏差校正值并用存储的这些偏差值控制校正电路，上述探测信号偏差就可以得到校正。探测器列阵和读出电路最好做成单片或混成结构，而偏差校正可先在焦平面列阵上进行，然后再进行信号放大和模／数转换。

关 键 词：红外成像系统 焦平面列阵 非均匀性 校正技术 探测器列阵 读出电路 校正电路 信号产生 

分 类 号：TN216[电子电信—物理电子学] TN215