氧化物超导体的微区成象X光电子能谱分析  

Small Area XPS Imaging of Oxide Superconductors

作　　者：赵良仲[1] 刘世宏[1] 张金彪[1] 徐翠英[1] 潘承璜[1] 王瑞兰[2] 李宏成[2] 

机构地区：[1]中国科学院化学研究所,北京100080 [2]中国科学院物理研究所超导国家重点实验室,北京100080

出　　处：《分析化学》1997年第11期1331-1333,共3页Chinese Journal of Analytical Chemistry

基　　金：国家自然科学基金;国家超导中心资助课题

摘　　要：用微区成象ＸＰＳ法分析了 Ｙ－Ｂａ－Ｃｕ－Ｏ（ＹＢＣＯ）超导块材，Ｙ（Ｇｄ）－Ｂａ－Ｃｕ－Ｏ（ＹＧＢＣＯ）超导膜和 Ｂａ－Ｋ－Ｂｉ－Ｏ（ＢＫＢＯ）超导晶体的成份原子分布。结果表明，ＹＢＣＯ块材和 ＹＧＢＣＯ膜表面都存在富原子区；ＹＢＣＯ表面的富 Ｂａ区位置与 ＣＯ３２－ 杂质富区的位置符合；ＹＢ－ＣＯ块材的成份不均匀现象比ＹＧＢＣＯ膜的严重；ＢＫＢＯ晶面的原子分布较均匀。The XPS elemental images of superconducting Y-Ba-Cu-O bulk material, Y(Gd) -Ba-Cu-O film and Ba-K-Bi-O crystals were generated using imaging XPS technique. The re- sults show that there are atom-rich dots on Y-Ba-Cu-O and Y(Gd)-Ba-Cu-O. The Ba-rich dots are coincident with the CO32--rich dots; the inhomogeneity of elemental distribution is more severe for Y-Ba-Cu-O bulk material than for Y(Gd)-Ba-Cu-O film. However, the elemental distribution on crystal faces of Ba-K-Bi-O is quite homogeneous.

关 键 词：YGBCO YBCO BKBO 超导体 

分 类 号：TM26[一般工业技术—材料科学与工程]