薄膜电阻器常见失效模式的分析和改进途径  被引量:3

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作  者:徐平 

机构地区:[1]蚌埠双环电子集团,安徽蚌埠233010

出  处:《安徽电子信息职业技术学院学报》2008年第5期20-21,共2页Journal of Anhui Vocational College of Electronics & Information Technology

摘  要:本文简单介绍了薄膜电阻器的制造过程,薄膜电阻器常见的失效模式和失效机理,并结合实践,简要介绍了电阻器失效分析和改进的途径及失效分析技术的延伸。

关 键 词:薄膜电阻器 失效模式 失效机理 分析改进途径 失效分析技术的延伸 

分 类 号:TM544[电气工程—电器]

 

参考文献:

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引证文献:

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